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日本共立絕緣電阻計(jì)
更新時(shí)間：2025-10-14
訪問(wèn)量：1796
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：日本
簡(jiǎn)要描述：
日本共立絕緣電阻計(jì) MODEL 3161A：超小型絕緣電阻計(jì)； 測(cè)試電壓為：500V； 自動(dòng)放電功能，測(cè)試后自動(dòng)釋放已充電電壓中的電荷；采用耐沖擊的新素材(彈性材料)； 可以在昏暗場(chǎng)所中操作的刻度照明。
日本共立絕緣電阻計(jì) MODEL 3161A的性能：
MODEL 3161A僅340g的超小型絕緣電阻計(jì)。
MODEL 3161A測(cè)試電壓為：500V
自動(dòng)放電功能，測(cè)試后自動(dòng)釋放已充電電壓中的電荷。
采用耐沖擊的新素材（彈性材料）。
可以在昏暗場(chǎng)所中操作的刻度照明。
帶遠(yuǎn)程開(kāi)關(guān)的探棒標(biāo)準(zhǔn)材料裝備（可自動(dòng)切斷電源）。
使用肩帶可雙手作業(yè)。
設(shè)計(jì)符合安全規(guī)格IEC 61010-1 CAT III 600V。
日本共立絕緣電阻計(jì) MODEL 3161A的技術(shù)參數(shù)
| MODEL 3147A | MODEL 3148A | MODEL 3161A | |||||
| 絕緣抵抗計(jì) | 額定測(cè)定電壓 | 125V | 500V | 100V | 250V | 15V | 500V |
| 有效zui大顯示值 | 20MΩ | 100MΩ | 20MΩ | 50MΩ | 20MΩ | 100MΩ | |
| 中間值 | 0.5MΩ | 2MΩ | 0.5MΩ | 1MΩ | 0.05MΩ | 2MΩ | |
| 第1有效測(cè)定范圍 | 0.02MΩ ~10MΩ | 0.1MΩ ~50MΩ | 0.05MΩ ~10MΩ | 0.05MΩ ~20MΩ | 0.005MΩ ~2MΩ | 0.1MΩ ~50MΩ | |
| （*1）標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)度 | 顯示值的±5% | ||||||
| 第2有效測(cè)定范圍 | 除了0和∞刻度的第1有效測(cè)定范圍以外的刻度 | ||||||
| （*1）標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)度 | 顯示值的±10% | ||||||
| 0和∞刻度的度 | 刻度的0.7%以下 | ||||||
| 開(kāi)放回路電壓 | 額定測(cè)定電壓值的1.2倍以下 | ||||||
| 額定測(cè)定電流 | 連接額定測(cè)定電壓×1000Ω的數(shù)值的試驗(yàn)電阻時(shí),1mA 0~+20%以內(nèi) | ||||||
| 短路電流 | 2.2mA DC以內(nèi) | ||||||
| 電壓計(jì) | 測(cè)定范圍 | AC0~600V | AC0~300V | AC0~600V | |||
| 度 | zui大刻度值的±3% | ||||||
| 安全規(guī)格 | IEC61010-1 CAT.III 300V CAT II 600V | ||||||
| 耐電壓 | AC3,700V/1分鐘 | ||||||
| 防塵防水 | IP40 | ||||||
| 使用電池 | 單3干電池R6P（1.5V）×4 | ||||||
| 外形尺寸 | 90（L）×137（W）×40（D）mm | ||||||
| 重量 | 約340g（含電池） | ||||||
| （*2）各范圍可測(cè)試次數(shù) 試驗(yàn)電阻 | 800次以上 | 500次以上 | 1300次以上 | 1100次以上 | 700次以上 | 700次以上 | |
| 0.125MΩ | 0.5MΩ | 0.1MΩ | 0.25MΩ | 0.015MΩ | 0.5MΩ | ||
| 附件 | 7149（遠(yuǎn)程開(kāi)關(guān)測(cè)試探棒組合），單3干電池R6P（1.5V）×4，肩帶，使用說(shuō)明書(shū) | ||||||
| 可選件 | 7116（高處測(cè)試探棒組合），8016（鉤形金屬頭），9096（攜帶用軟質(zhì)外箱） | ||||||
（*1） 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)如下：
周?chē)鷾囟龋?3±5 ℃
相對(duì)濕度：45~75%
水平位置（傾斜度5度以下）
外部磁場(chǎng)僅為地磁場(chǎng)
電池電壓：電池有效范圍
（*2） 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)時(shí)使用單3錳電池5秒ON，25秒OFF的頻率反復(fù)測(cè)試，統(tǒng)計(jì)在電池有效范圍內(nèi)的測(cè)試次數(shù)。
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